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关键词：测厚仪，薄膜厚度仪，薄膜测厚仪，纸张厚度测定仪，厚度测量仪，厚度计，薄膜厚度测量仪，薄膜厚度检测仪，薄膜厚度测定仪，薄片测厚仪，硅片测厚仪，GB 6672，纸张测厚仪
PI膜测厚仪（聚酰亚胺薄膜测厚仪）采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
PI膜测厚仪主要技术特征：
严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制
测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差
支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择
系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定
实时显示测量结果的值、小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断
配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性
系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果
系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看
标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输
支持Lystem™实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告
PI膜测厚仪执行标准：
ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D645、 ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 DIN 53105、 DIN 53353、 JIS K6250、 JIS K6328、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
PI膜测厚仪技术特征：
测试范围：0～2mm（常规）；0～6mm；12mm（可选）
+
测量速度：10 次/min （可调）
测试压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）
接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）
注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
进样步距：0～1000 mm
进样速度：0.1～99.9 mm/s
电源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)
净重：32kg
PI膜测厚仪仪器配置：
标准配置：主机、标准量块一件
选购件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码
济南兰光咨询电话：0531-85068566 在线咨询QQ：1739638090 兰光网址www.labthink.cn